X射線熒光光譜(XRF)分析法是對各種各樣材料進(jìn)行元素測定的一種現(xiàn)代化的通用分析方法。不管是塊狀樣品、粉末樣品還是液體樣品，位于元素周期表上從11號元素鈹（Na）到92號元素鈾（U）之間的幾乎所有元素都可以進(jìn)行精確的定性、定量和無標(biāo)樣分析。

波長色散X熒光分析儀是我公司總結(jié)我國多年來研制該類型儀器的經(jīng)驗和教訓(xùn),并吸收與參照國際先進(jìn)技術(shù)基礎(chǔ)上,深入進(jìn)行產(chǎn)業(yè)化研發(fā)形成的高科技產(chǎn)品,各項技術(shù)性能指標(biāo)均已達(dá)到國際同類產(chǎn)品水平。

X射線熒光鍍層測厚儀是采用能量色散X熒光分析技術(shù)，同時測量多種元素的分析儀器，根據(jù)用戶應(yīng)用要求可配置為從Na到U的任意多種元素的分析測定。另外配以功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及元素含量測定的需要，人性化的設(shè)計，使測試工作更加輕松完成。此儀器具有測量元素含量與鍍層厚度檢測的兩種功能。

便攜式X射線熒光光譜儀是采用能量色散X熒光分析技術(shù)，同時測量多種元素的分析儀器，根據(jù)用戶應(yīng)用要求可配置為從Na到U的任意多種元素的分析測定。該儀器可廣泛應(yīng)用于環(huán)保、考古、建材、野外采礦、垃圾回收、RoHS指令等各種行業(yè)。

波長色散X熒光分析儀是我公司總結(jié)我國多年來研制該類型儀器的經(jīng)驗和教訓(xùn),并吸收與參照國際先進(jìn)技術(shù)基礎(chǔ)上，深入進(jìn)行產(chǎn)業(yè)化研發(fā)形成的高科技產(chǎn)品，各項技術(shù)性能指標(biāo)均已達(dá)到國際同類產(chǎn)品水平。X熒光分析儀可以應(yīng)用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的領(lǐng)域，例如建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(鋼鐵、有色金屬)、石油（微量元素如S、Pb等）、化工、地質(zhì)采礦、商品檢驗、質(zhì)量檢驗甚至人體微量元素的檢驗等等。是常量分析和微量分析的可靠工具，也應(yīng)用于大專院校和科研單位。